温度保险丝进行“寿命测试”过程中出现烧毁有哪些原因

发布时间:2021-09-14
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提问:温度保险丝进行“寿命测试”中出现烧断/烧毁有哪些原因?
 
答:
(1)最重要的是设计原因导致长期使用温度过高(如功率过高、发热体或温度保险丝设计过近等。)温度保险丝选择TF过低,导致熔断;
(2)温度保险丝连接不紧,如端子冲洗不紧或虚焊,导致电阻过大,温度叠加过高;
(3)温度保险丝的选择,只考虑TF,不考虑TH。因为寿命测试是一个长期的过程,使用温度超过TH,但不超过TF。保险丝不需要立即断裂,但会在一段时间内慢慢熔化(也许几十个小时,也许几百个小时),最终导致烧毁。产品的设计比较复杂,最好有物理分析。一般来说,这些情况比较常见;

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